Recepción para visitar la cabina #8934 de BWT Pekín en la expo del BIOS 2015, y cabina #934 en el oeste 2015 de Photonics, el laser más completo #1, el photonics, y la conferencia biomédica de la óptica durante el 7-12 de febrero de 2015.
Los papeles técnicos presentaron por BWT Pekín en el LASE - tecnología láser y los usos de alta potencia del diodo XIII (conferencia 9348):
Sesión 5: Confiabilidad del dispositivo de poder más elevado
Fecha: Lunes, el 9 de febrero de 2015
Tiempo: 8:00 - 8:20
Papel 9348-19: Estudio de la confiabilidad lasers múltiples del diodo del emisor del alto brillo de los solos
Presentador: Thomas Yang
Las bombas del alto brillo basadas en los solos emisores múltiples ofrecen ventajas significativas en la gestión y la confiabilidad termales para bombear los lasers de alta potencia de la fibra. El curso de la vida de los lasers de la bomba del alto brillo es de los microprocesadores del diodo láser y de los paquetes del multi-emisor. En este estudio, optimizamos los procesos de la vinculación del microprocesador para los diversos microprocesadores incluyendo 9xxnm 10W-20W, los tipos de 1470nm 6W que eran de diversos proveedores en todo el mundo, y los procesos convenientes alcanzados de la vinculación del microprocesador para producir alto rendimiento y confiable microprocesador-en-submount. Entonces, en este papel, una serie de pruebas de vida acelerada fue realizada en el emisor 2 a 7 paquetes del emisor con los módulos juntados fibra 9xxnm/105um. El MTTF de estos módulos excede las horas 100k. Finalmente, presentamos un estudio separado de la confiabilidad en el diodo juntado fibra estabilizado longitud de onda 976nm.
Recepción para visitar la cabina #8934 de BWT Pekín en la expo del BIOS 2015, y cabina #934 en el oeste 2015 de Photonics, el laser más completo #1, el photonics, y la conferencia biomédica de la óptica durante el 7-12 de febrero de 2015.
Los papeles técnicos presentaron por BWT Pekín en el LASE - tecnología láser y los usos de alta potencia del diodo XIII (conferencia 9348):
Sesión 5: Confiabilidad del dispositivo de poder más elevado
Fecha: Lunes, el 9 de febrero de 2015
Tiempo: 8:00 - 8:20
Papel 9348-19: Estudio de la confiabilidad lasers múltiples del diodo del emisor del alto brillo de los solos
Presentador: Thomas Yang
Las bombas del alto brillo basadas en los solos emisores múltiples ofrecen ventajas significativas en la gestión y la confiabilidad termales para bombear los lasers de alta potencia de la fibra. El curso de la vida de los lasers de la bomba del alto brillo es de los microprocesadores del diodo láser y de los paquetes del multi-emisor. En este estudio, optimizamos los procesos de la vinculación del microprocesador para los diversos microprocesadores incluyendo 9xxnm 10W-20W, los tipos de 1470nm 6W que eran de diversos proveedores en todo el mundo, y los procesos convenientes alcanzados de la vinculación del microprocesador para producir alto rendimiento y confiable microprocesador-en-submount. Entonces, en este papel, una serie de pruebas de vida acelerada fue realizada en el emisor 2 a 7 paquetes del emisor con los módulos juntados fibra 9xxnm/105um. El MTTF de estos módulos excede las horas 100k. Finalmente, presentamos un estudio separado de la confiabilidad en el diodo juntado fibra estabilizado longitud de onda 976nm.
